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Demo: Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) with the CoreAFM

This is a recording of a live demonstration on the use of CoreAFM for Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM). Dr. Patrick Frederix, Application scientist conducts the demonstration during which he shows how (KPFM) is set up on a CoreAFM to measure the contact potential difference between the cantilever tip and a sample. He addresses operation in both single and dual pass modes. CoreAFMを使ったケルビンプローブフォース顕微鏡（KPFM）のライブデモを収録したものです。アプリケーション・サイエンティストのDr. Patrick Frederixがデモンストレーションを行い、カンチレバー・チップとサンプル間の接触電位差を測定するために、CoreAFM上でKPFMをどのようにセットアップするかを紹介しています。シングルパスとデュアルパスの両方のモードでの動作を説明しています。