У нас вы можете посмотреть бесплатно Power Semiconductor Rollercoaster: DRB (Dynamic Reverse Bias) или скачать в максимальном доступном качестве, видео которое было загружено на ютуб. Для загрузки выберите вариант из формы ниже:
Если кнопки скачивания не
загрузились
НАЖМИТЕ ЗДЕСЬ или обновите страницу
Если возникают проблемы со скачиванием видео, пожалуйста напишите в поддержку по адресу внизу
страницы.
Спасибо за использование сервиса ClipSaver.ru
In this video, Gabriel Lieser, Gabriel Lieser, Head of Power Semiconductor Reliability Research at NI, focuses on DRB tests (Dynamic Reverse Bias). This is a reliability test for wide-bandgap devices made of SiC or GaN. Learn about the two ways of performing this reliability test for SiC and GaN components and what needs to be considered when setting up and performing the test. Learn more: https://bit.ly/3XHjZYG