Скачать с ютуб видео Solving problems with Part Average Testing (PAT) in chip design.

Не удается загрузить Youtube-плеер. Проверьте блокировку Youtube в вашей сети.
Повторяем попытку...

Скачать видео с ютуб по ссылке или смотреть без блокировок на сайте: Solving problems with Part Average Testing (PAT) in chip design. в качестве 4k

У нас вы можете посмотреть бесплатно Solving problems with Part Average Testing (PAT) in chip design. или скачать в максимальном доступном качестве, видео которое было загружено на ютуб. Для загрузки выберите вариант из формы ниже:

Информация по загрузке:

Скачать mp3 с ютуба отдельным файлом. Бесплатный рингтон Solving problems with Part Average Testing (PAT) in chip design. в формате MP3:

Если кнопки скачивания не загрузились НАЖМИТЕ ЗДЕСЬ или обновите страницу
Если возникают проблемы со скачиванием видео, пожалуйста напишите в поддержку по адресу внизу страницы.
Спасибо за использование сервиса ClipSaver.ru

Solving problems with Part Average Testing (PAT) in chip design.

In this video, I introduce Part Average Testing (PAT). I discuss how it works, and some key problems in it. I then go more in depth into these problems, and why they occur. I also include the result of these problems (Chip failure, and inaccurate calculations.) I conclude the video, by finding a solution to these issues, and discuss why this solution works, and how it can make PAT a lot more efficient.

Comments