СЭМ против фотолюминесценции скачать в хорошем качестве

СЭМ против фотолюминесценции

Результаты сканирующей электронной микроскопии (СЭМ) должны подтверждать результаты спектроскопии фотолюминесценции (ФЛ). В этом видео я объясняю, как описывать эти методы характеризации в научных работах. В СЭМ мы говорим о: Морфологии поверхности Более гладкая поверхность Равномерное покрытие плёнкой Размерах зерен (маленьких или больших) Толщине плёнки В ФЛ мы говорим о: Длине волны возбуждающего света Основной пик ФЛ находится при 765 нм... Демонстрируется более высокая интенсивность ФЛ, чем у исходной плёнки, что указывает на меньшее количество дефектов в плёнке перовскита и более высокое качество кристалла, что приводит к снижению безызлучательной рекомбинации (НРР). «Рисунки адаптированы из статьи Пэна и др. «Импринтинг с использованием ионной жидкости для эффективных и стабильных квазидвумерных перовскитных солнечных элементов с контролируемым распределением фаз», Nano-Micro Letters (2023), лицензированной по лицензии CC BY 4.0 (https://creativecommons.org/licenses/....