У нас вы можете посмотреть бесплатно Tessent Streaming Scan Network (SSN): No-compromise DFT - Geir Eide, Director, Tessent, Siemens EDA или скачать в максимальном доступном качестве, видео которое было загружено на ютуб. Для загрузки выберите вариант из формы ниже:
Если кнопки скачивания не
загрузились
НАЖМИТЕ ЗДЕСЬ или обновите страницу
Если возникают проблемы со скачиванием видео, пожалуйста напишите в поддержку по адресу внизу
страницы.
Спасибо за использование сервиса ClipSaver.ru
The increasing complexity in large System on Chip (SoC) designs present challenges to design-for-test (DFT). Hierarchical DFT is no longer enough. Tessent Streaming Scan Network (SSN) technology eliminates the difficult and costly trade-offs between DFT implementation effort and manufacturing test cost by decoupling core-level and chip-level DFT. With SSN, a true no-compromise approach to DFT is possible.