Scanning Electron Microscopy basics скачать в хорошем качестве

Scanning Electron Microscopy basics

Scanning Electron Microscopy basics Speaker: Assistant Professor Yaroslav Sadovskiy, National Research Nuclear University MEPhI/Institute for Laser and Plasma Technologies The lecture gives a basic introduction to Scanning Electron Microscopy (SEM) which is by far the most visually satisfying method of surface analysis. The images produced by SEM look photorealistic though they have nothing in common with optical photography. Image acquisition in SEM is explained in very basic terms in this lection as well as the scheme of the device itself. Main parameters of the system are discussed and by the end of the lection a rough "recepie" of obtaining a good quality image is presented. Основы сканирующей электронной микроскопии Лектор: Ярослав Садовский, доцент, НИЯУ МИФИ/Институт лазерных и плазменных технологий (Институт ЛаПлаз) В лекции в доступном виде представлено введение в сканирующую (растровую) электронную микроскопию (СЭМ/РЭМ). Данный метод анализа поверхности представляет самые красивые на вид результаты, которые выглядят как абсолютно фотореалистичные изображения, хотя способ их получения никак не связан с оптикой и фотографией. Способ получения изображения в СЭМ показан в лекции максимально просто и доступно. Также показана общая схема самого устройства. В лекции рассказывается об основных параметрах устройства и их влиянии на получаемое изображение. К концу лекции дается примерный "рецепт" получения изображения наилучшего качества.