У нас вы можете посмотреть бесплатно Automated Wafer Probing with Vertical Probe Cards on the SUMMIT200 Probe Station – FormFactor или скачать в максимальном доступном качестве, видео которое было загружено на ютуб. Для загрузки выберите вариант из формы ниже:
Если кнопки скачивания не
загрузились
НАЖМИТЕ ЗДЕСЬ или обновите страницу
Если возникают проблемы со скачиванием видео, пожалуйста напишите в поддержку по адресу внизу
страницы.
Спасибо за использование сервиса ClipSaver.ru
FormFactor’s ReAlign™ technology for the SUMMIT200 wafer probe station enables automated probe-to-pad alignment for applications with limited microscope view such as vertical and Pyramid probe cards. Measurements can be performed automatically on small pads from -40°C to +125°C with FormFactor’s Pyramid and Takumi probe cards, Celadon High Temperature Cantilever probe cards, and more. Vertical probe cards enable testing of advanced devices for applications such as 5G, the internet of things and optical sensors. The ReAlign module is easily removable to support any other available application layer on the SUMMIT200. It can be reinstalled within minutes. #SUMMIT200 #200mmProbeSystem #ReAlign Learn more about us: https://www.formfactor.com/product/pr... Follow FormFactor – Facebook: / formfactorinc LinkedIn: / formfactor