У нас вы можете посмотреть бесплатно Lecture-13|VLSI System Testing|Automatic Test Pattern Generation (ATPG)|D-Algorithm или скачать в максимальном доступном качестве, видео которое было загружено на ютуб. Для загрузки выберите вариант из формы ниже:
Если кнопки скачивания не
загрузились
НАЖМИТЕ ЗДЕСЬ или обновите страницу
Если возникают проблемы со скачиванием видео, пожалуйста напишите в поддержку по адресу внизу
страницы.
Спасибо за использование сервиса ClipSaver.ru
Subject - VLSI System Testing Semester - II (M.Tech, Electronics & Telecommunication) University - Chhattisgarh Swami Vivekanand Technical Univesity (CSVTU), Bhilai. Topic - Automatic Test Pattern Generation (ATPG)|D-Algorithm Faculty - Prof. Ashish Tiwari (PhD*, M.tech (VLSI Design), B.E. (Electronics and Telecommunication), Senior Member (IEEE), Life Member (ISTE). This lecture discusses the automatic test pattern generation methods for combinational circuits. D-algorithm, PODEM, FAN, SOCRATES are popular ATPG schemes. The D-algorithm is discussed in detail here. All other schemes are extension or improvement of D-algorithm.