DDF #07. — Лекция 7: Аппаратное тестирование и DFT (Design for Testability) 2025 10 29 05 57 41 скачать в хорошем качестве

DDF #07. — Лекция 7: Аппаратное тестирование и DFT (Design for Testability) 2025 10 29 05 57 41

В этой лекции мы разберём, как цифровые схемы тестируются и отлаживаются на уровне железа. Поговорим о том, как инженеры внедряют механизмы самопроверки прямо в микросхемы и почему без DFT нельзя создать надёжную FPGA или ASIC. 🔧 Темы видео: Что такое DFT (Design for Testability) и зачем он нужен; Как работает JTAG и интерфейс Boundary Scan; Принцип Built-In Self-Test (BIST); Проверка FPGA и плат на уровне пинов; Как DFT упрощает отладку и снижает затраты на производство. 🧰 Демонстрация: Рассмотрим JTAG-интерфейс на плате DE10-Lite; Проведём Boundary Scan тест и разберём SignalTap как встроенный инструмент логического анализа. 📘 Подходит для: студентов, разработчиков цифровых систем, инженеров FPGA и ASIC. 📅 Модуль 4: Верификация и тестирование 📹 Лекция 7: Аппаратное тестирование и DFT #FPGA #Quartus #DFT #JTAG #BIST #HardwareTesting #DE10Lite #DigitalDesign #VHDL #Verilog