FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ Tutorial 2 |Schichtdickenmessung Materialanalyse Röntgenfluoreszenz|Fischer скачать в хорошем качестве

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ Tutorial 2 |Schichtdickenmessung Materialanalyse Röntgenfluoreszenz|Fischer

Tutorial Teil 2 - Stabilitätstest, Kalibrierung und Normierung des FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ: Das Röntgenfluoreszenz-Messgerät von Fischer zur Schichtdickenmessung und Materialanalyse auf kleinsten Strukturen. Die Gerätereihe XDV-µ ist für die präzise Schichtdickenmessung und Materialanalyse auf kleinsten Strukturen ausgelegt. Alle Geräte verfügen über eine Polykapillaroptik, die die Röntgenstrahlung bündelt. So sind Messflecken (fwhm) von 10 bis 60 µm möglich. Die hohe Intensität der fokussierten Strahlen erlaubt dabei kurze Messzeiten. Neben dem universell einsetzbaren XDV-µ stehen auch spezialisierte Geräte für die Elektronik- und Halbleiterindustrie zur Verfügung. So ist zum Beispiel das XDV-µ LD für die Messung auf bestückten Leiterplatten optimiert, während das XDV-µ Wafer für den Einsatz im Reinraum bestimmt ist. Alle genannten Funktionalitäten sind auch in der neuen Generation unserer FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-Serie enthalten. 💯 Die XDV®-Geräte erscheinen ab sofort in neuem Design und sind ausgestattet mit dem neuen digitalen Pulsprozessor DPP+ für bis zu 50% mehr Performance. Profitieren Sie von einer signifikanten Optimierung der Messgenauigkeit 🎯 oder einer deutlichen Verkürzung der Messzeit. ⌚ Mehr über unser FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ: https://www.helmut-fischer.com/de/pro... 📍 Verpassen Sie keine News und folgen Sie uns auch auf LinkedIn 👍🏻   / helmut-fischer-global   #XRAY #Solutions #Fischer