У нас вы можете посмотреть бесплатно Observation of resistive switching at the nanoscale via conductive atomic force microscopy или скачать в максимальном доступном качестве, видео которое было загружено на ютуб. Для загрузки выберите вариант из формы ниже:
Если кнопки скачивания не
загрузились
НАЖМИТЕ ЗДЕСЬ или обновите страницу
Если возникают проблемы со скачиванием видео, пожалуйста напишите в поддержку по адресу внизу
страницы.
Спасибо за использование сервиса ClipSaver.ru
In this talk I present an updated overview on how to analyze resistive switching at the nanoscale using a conductive atomic force microscope (CAFM). This technique is very useful to confirm the presence of resistive switching in different materials at the nanoscale (in areas smaller than 50nm2) without the need of complex lithography techniques. I also give some tricks on how to modify the CAFM to allow measuring with a wide current range and with high temporal resolution. For more information about our work please see our website: https://lanza.kaust.edu.sa/