У нас вы можете посмотреть бесплатно Scanning Probe Microscopy Lecture #3 AFM или скачать в максимальном доступном качестве, видео которое было загружено на ютуб. Для загрузки выберите вариант из формы ниже:
Если кнопки скачивания не
загрузились
НАЖМИТЕ ЗДЕСЬ или обновите страницу
Если возникают проблемы со скачиванием видео, пожалуйста напишите в поддержку по адресу внизу
страницы.
Спасибо за использование сервиса ClipSaver.ru
This is the third lecture on scanning probe microscopy, here I discuss different artifacts that can appear in the scanned image. Piezo-hysteresis, wrong regulation settings, contaminated tips, and tip-size effects are mentioned. Your guide: Magnus Hummelgård. Playlist with all the materials characterization videos • Light Microscope LM demo session