B2900C/CL: Измерение быстрого переходного процесса с помощью точного SMU скачать в хорошем качестве

B2900C/CL: Измерение быстрого переходного процесса с помощью точного SMU

Определите вольт-амперные характеристики (ВАХ) и переходные характеристики вашего устройства с помощью прецизионных источников-измерителей (ИС) Keysight B2900C/CL. При разработке фотодетекторов точная оценка как ВАХ, так и переходных характеристик имеет решающее значение. Традиционные настольные ИС, способные измерять токи на уровне нА, часто не могут точно регистрировать переходные характеристики из-за низкой скорости дискретизации. В результате даже для оценки одного устройства инженерам требовались прецизионные ИС и дополнительный прибор с высокой скоростью дискретизации. Прецизионные ИС Keysight B2900C/CL решают эту задачу, предлагая сверхвысокое разрешение (до 10 фА, 100 нВ) и малый интервал дискретизации 10 мкс. Это позволяет инженерам точно регистрировать быстрые переходные характеристики, такие как нарастание сигнала и импульсы тока, индуцированные светом, а также малые токи. Кроме того, встроенный графический дисплей позволяет контролировать форму сигнала на SMU без использования ПК, что повышает эффективность тестирования. Узнайте, как B2900C/CL меняет подход к разработке фотодетекторов: https://www.keysight.com/us/en/produc... Смотреть техническое описание: https://www.keysight.com/us/en/assets... #SourceMeasureUnit #SourceMeter #SMUs #PrecisionMeasurement #IVMeasurement #IV #CurrentMeasurement #VoltageMeasurement #HighSourcing #HighAccuracy #HighResolution #Semiconductor #SemiconductorDevice #Material #HigherPerformance #keysight #keysighttechnologies #инжиниринг #электроннаяинжиниринг