У нас вы можете посмотреть бесплатно [Electronics] Sample prep of 9X layer 3D NAND Flash Memory for Atom Probe Tomography или скачать в максимальном доступном качестве, видео которое было загружено на ютуб. Для загрузки выберите вариант из формы ниже:
Если кнопки скачивания не
загрузились
НАЖМИТЕ ЗДЕСЬ или обновите страницу
Если возникают проблемы со скачиванием видео, пожалуйста напишите в поддержку по адресу внизу
страницы.
Спасибо за использование сервиса ClipSaver.ru
A 3DAP sample of a 3D NAND flash memory was prepared using orthogonally arranged FIB-SEM. The center of the memory hole on the 10th layer was precisely positioned on the apex with a diameter of 100 nm or less. Realtime STEM of the orthogonally arranged FIB-SEM allows precise sample preparation without losing sight of target structures or an end point. #3DNAND #MemoryHole #FlashMemory #FIBSEM #electronmicroscopy #ElectronMicroscope Available instruments for this measurement are : Orthogonally-arranged FIB-SEM https://www.hitachi-hightech.com/glob... Further details can be found on our membership website with data library. Looking forward to your joining. https://biz.hitachi-hightech.com/sina... About our membership site, see https://www.hitachi-hightech.com/glob...