Лекция 45. Применение интерфейса JTAG для тестирования и отладки устройств. Интерфейс I2C. скачать в хорошем качестве

Лекция 45. Применение интерфейса JTAG для тестирования и отладки устройств. Интерфейс I2C.

Ролик представляет обзор двух ключевых стандартов, используемых в цифровой электронике: JTAG (Joint Test Access Group) и последовательная шина I2C (InterIC). Значительная часть текста посвящена JTAG, или граничному сканированию, которое является внутрисистемным методом тестирования и программирования, закрепленным стандартом IEEE 1149.1. Этот четырехпроводной интерфейс позволяет производителям оценивать тестовое покрытие, диагностировать цепи и выполнять внутрисистемное программирование, что стало отраслевым требованием для современных микросхем. Далее описывается шина I2C, разработанная Philips для низкоскоростной передачи 8-битных данных между контроллерами и периферией, включая датчики и ОЗУ. Использование всего двух линий – SDA (данные) и SCL (синхронизация) – минимизирует количество контактов, при этом обмен данными регулируется динамическими ролями ведущего/ведомого и требует подтверждения приема каждого байта. В целом, материал охватывает как высокоуровневые методы диагностики сложных цифровых устройств, так и базовые протоколы межмикросхемного взаимодействия.