Скачать с ютуб видео Virtual Metrology In Semiconductor Manufacturing

Не удается загрузить Youtube-плеер. Проверьте блокировку Youtube в вашей сети.
Повторяем попытку...

Скачать видео с ютуб по ссылке или смотреть без блокировок на сайте: Virtual Metrology In Semiconductor Manufacturing в качестве 4k

У нас вы можете посмотреть бесплатно Virtual Metrology In Semiconductor Manufacturing или скачать в максимальном доступном качестве, видео которое было загружено на ютуб. Для загрузки выберите вариант из формы ниже:

Информация по загрузке:

Скачать mp3 с ютуба отдельным файлом. Бесплатный рингтон Virtual Metrology In Semiconductor Manufacturing в формате MP3:

Если кнопки скачивания не загрузились НАЖМИТЕ ЗДЕСЬ или обновите страницу
Если возникают проблемы со скачиванием видео, пожалуйста напишите в поддержку по адресу внизу страницы.
Спасибо за использование сервиса ClipSaver.ru

Virtual Metrology In Semiconductor Manufacturing

Virtual metrology may never be 100% perfect because of the almost unlimited number of changes in a fab tools and the unique chip and wafer designs they're being used to process. But there are places where virtual metrology does make sense. Jon Herlocker, CEO of Tignis (now part of Cohu), talks with Semiconductor Engineering about why virtual metrology will never completely replace metrology tools in semiconductor fabs, where it has been used successfully, and what's included and not included in data collected by sensors on those tools. This is the fourth video in a seven-part series on AI in semiconductor manufacturing.

Comments