У нас вы можете посмотреть бесплатно QWLSI Wavefront Sensors for Tomorrow’s Challenges in Optics Metrology - OIDA Technology Showcase - или скачать в максимальном доступном качестве, видео которое было загружено на ютуб. Для загрузки выберите вариант из формы ниже:
Если кнопки скачивания не
загрузились
НАЖМИТЕ ЗДЕСЬ или обновите страницу
Если возникают проблемы со скачиванием видео, пожалуйста напишите в поддержку по адресу внизу
страницы.
Спасибо за использование сервиса ClipSaver.ru
Replay of Valentin Genuer's presentation during the last OIDA technology showcase. Contact us if you have any questions or to setup a demonstration: contact@phasics.com Quadriwave Lateral Shearing Interferometry Wavefront Sensors for Tomorrow’s Challenges in Optics Metrology General description of the technology: Quadriwave Lateral Shearing Interferometry (QWLSI) Advantages/Drawbacks compared to current metrology standard Applications examples: Beam metrology: free space optical communication Optics metrology: wide angle lenses MTF measurements for consumer electronics and automotive industry, Transmitted Wavefront Error and Reflected Wavefront Error at optics design wavelength Quantitative Phase imaging applied to refractive index change mapping in materials, laser-engraved waveguides