У нас вы можете посмотреть бесплатно Power Semiconductor Rollercoaster: Dynamic H3TRB или скачать в максимальном доступном качестве, видео которое было загружено на ютуб. Для загрузки выберите вариант из формы ниже:
Если кнопки скачивания не
загрузились
НАЖМИТЕ ЗДЕСЬ или обновите страницу
Если возникают проблемы со скачиванием видео, пожалуйста напишите в поддержку по адресу внизу
страницы.
Спасибо за использование сервиса ClipSaver.ru
In this video, Gabriel Lieser, Head of Power Semiconductor Reliability Research at NI, focuses on the dynamic H3TRB (High Humidity High Temperature Reverse Bias), a reliability test for wide bandgap components made of SiC or GaN. It is similar to the DRB test, but humidity is added through a climate chamber, which brings new challenges in the test setup and causes other failure mechanisms. The dynamic H3TRB test is an important test for wide-bandgap power semiconductors to test their reliability close to the application. Learn more: https://bit.ly/3VYQfFs